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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 使用熱釋光探測(cè)器的方法 熱釋光探測(cè)器 型號(hào)：GR200A
熱釋光探測(cè)器LiF(Mg,Cu,P)的技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍：10uGY---10GY
HP(10)時(shí) 20keV---9MeV
HP(0.07)時(shí) 10keV---1.5MeV
探測(cè)下限：0.1uGY
誤差：<30%
3個(gè)月內(nèi)累積計(jì)量損失：<10%
重復(fù)性：>2%
LiF(Mg,Cu,P)主要特點(diǎn)
劑量片形狀 | GR-200A | 圓形： 直徑 4.5mm ，厚 0.8mm |
有效原子序數(shù)Z | 8.2 | |
密度（g/M3） | 2.5 | |
發(fā)光波長(zhǎng) | 385 | |
相對(duì)于TL—100靈敏度 | 65 | |
峰值加熱溫度℃ | 210 | |
零劑量讀數(shù)( | 1 | |
探測(cè)域值（ | 1 | |
線性范圍（GY） | 10 | |
劑量計(jì)角響應(yīng) | 射線入射角偏離正常方向0 | |
重復(fù)性 | <2% | |
能量響應(yīng)（30keV---1.3MeV） | <20% | |
批次同性（1SD） | <5% | |
衰退（室溫） | <5%/年 | |
光照對(duì)衰退影響 | 燈照無(wú)影響，太陽(yáng)光照有影響 | |
重復(fù)使用次數(shù) | >100次 | |
劑量率變化影響 | 無(wú)影響 | |
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